抗干擾介質(zhì)損耗測試儀

一、概述

抗干擾介質(zhì)損耗測試儀是一種*測量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗，（tgδ）和電容容量（Cx）它淘汰了 QS 高壓電橋，具有操作簡單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓、抗干擾能力強(qiáng)、測試時(shí)間（在國內(nèi)同類產(chǎn)品中速度zui快）等特點(diǎn)。體積小、重量輕是我廠的第二代。

二、技術(shù)指標(biāo) 

  1、試驗(yàn)環(huán)境溫度：10℃～30℃（LCD液晶屏應(yīng)避免長時(shí)間日照） 

  2、相對(duì)濕度：20%～80% 

  3、供電電源：電壓：220V±10%，頻率50±1Hz 

  4、外形尺寸：長*寬*高=470mm*320mm*360mm 

  5、重量：18kg 

  6、輸出功率：1.5KVA 

  7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位） 

  8、測試方法：正接法、反接法、外接試驗(yàn)電壓法

  9、測量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：

tgδ：99.9%

Cx ：30 pF＜Cx（10KV）＜60000 pF

10KV  Cx＜60000 pF

5KV   Cx＜80000 pF

2.5KV  Cx＜0.3uF

外接試驗(yàn)電壓：

由外接試驗(yàn)變壓器輸出功率而定 

 10、基本測量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1%±0.09%  

電容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、分辨率： tgδ：0.01%   

Cx ：0.1pF

三、結(jié)構(gòu) 

儀器為升壓與測量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測量時(shí)無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。